本記事は2021年2月5日にJosh Odgers氏が投稿した記事の翻訳版です。
このシリーズでは、Nutanix AOSが、3ノードクラスタを含むResiliency Factor 2（RF2：データのコピーを2つ保持する設定）を使用している場合に、メンテナンスモード、リブート、障害シナリオにおいて、仮想マシンの完全な可用性とデータの整合性を維持することを学びました。
また、Nutanix AOSとvSAN 7 Update 1を比較し、（vSANが）より高い（SCSI）I/Oタイムアウトの設定、データの完全退避モードを使用し、オブジェクト再構築タイマーを60分遅延からゼロ遅延（つまり、再構築を即時開始する設定）にしたにもかかわらず、vSANは再起動と電源オンオフ（障害）シナリオの両方でI/Oの整合性エラーが発生するという事実を見てきました。
このパートでは、引き続きX-Ray のPlatform Availability, Resiliency and Integrity（プラットフォームの可用性、回復性、整合性）テストを実施しますが、今回はDell PowerEdge r740xd-24ノード（NVMe+SSD）を使用した8ノードのvSAN 7 Update 1クラスタで行います。
このテストの目的は、大規模なクラスタが結果にどのような影響を与えるか、また、vSANが大規模な環境でI/Oの整合性を維持できるかどうかを確認することです。
それでは早速、結果を見ていきましょう。
メンテナンスモード:
（このテストフェーズでは）I / Oエラーはレポートされません。
再起動時:
（このテストフェーズでは）206のI/Oエラーが確認できます。
電源オフ時:
（このテストフェーズでは）56 のI/Oエラーが確認できます。
（テスト結果の）考察:
4ノードのvSANクラスタでの以前の結果と比較すると、小さいクラスタよりも大きいクラスタの方がI/Oエラー数を減らすことができるようです。
これは、仮想マシンオブジェクトがより多くのノードに配置された状況下で、テスト内容が（8ノード構成の）クラスタ内の最初の4つのノードでのみ操作（メンテナンスモード、再起動、電源オフ）を実行するため、理にかなっています。
もし、このテストが（最初の4ノード上のみでの操作ではなく）5から8ノード目を含めてメンテナンスモード、再起動、電源オフの操作を続けていたら、エラー数は4ノードでのテストと同等か、それ以上になっていたと思われます。
次の検証は？
（Nutanix AOSとvSAN/VxRAILを比較した）I/Oの整合性の考察に（より深く）取り組むため、パート7では、より大きなクラスタとFTT2（Failures to Tolerate 2）を組み合わせたテストを行います。
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